无损检测新方法──磁记忆效应原理与应用

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无损检测新方法──磁记忆效应原理与应用

Thermal Power Generation Issue 4, Pages: 62-63(2000)

更新时间：2025-09-28

- 无损检测新方法──磁记忆效应原理与应用
- 作者机构：
  
  1. 爱德森厦门电子有限公司,福建,厦门,361000
  2. 厦门嵩屿电厂,福建,厦门,361006
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TH87
- Published：2000
- 稿件说明：
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[J]. Thermal Power Generation, 2000, (4): 62-63.
DOI：

[J]. Thermal Power Generation, 2000, (4): 62-63. DOI：

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